薄层色谱硅胶板分析薄层层析的定量测定

一、直接测定法：薄层色谱硅胶板在色谱分离后，直接用肉眼观察比较或用仪器扫描斑点而测定其含量。

a.目测法样品经色谱分离后，直接观察所得斑点的大小和颜色的深浅，并与标准品在相同条件下展开所得到的一系列已知不同浓度的标准斑点相比较，而近似地判断样品中所测成分的含量。

b.测面积法展开后色谱上的斑点面积与化合物含量间，符合一定的线性关系。

c.仪器测定法：用光密度计或称薄层扫描仪（TLC Scanner）扫描定量，该方法已成为薄层定量的主要方法。主要包括：吸收测定法，荧光测定法，荧光淬灭法。

二、洗脱测定法：

1.斑点的定位

2.斑点的洗脱:用吸集器将斑点位置的吸附吸下，然后用洗脱溶剂洗脱。

3.测定：

a.紫外分光光度法：洗脱液调整至一定体积，在此化合物最大吸收波长处测定。同时把样品斑点相应位置薄层吸附剂同样取下做空白对照。  

b.比色法：选择灵敏度高、专属性好的比色反应测定化合物含量，是比较常用的方法。

c.其它方法：极谱、库仑滴定、荧光测定等。

三、特殊的薄层

1.高效薄层色谱:是在普通薄层基础上发展起来的一种更为灵敏、精细的薄层技术。高效薄层是采用小颗粒吸附剂制备的均匀薄层，分离效率比普通薄层提高三倍，检出灵敏度增加，分析时间缩短。

2.棒状薄层色谱:将样品点在薄层棒上，经点样、展开后将被分离后的色谱棒通过适当的机械传动装置，水平地穿过检测氢火焰的中心，使化合物燃烧裂解，形成离子碎片和自由电子，再由电极收集它们并产生与化合物量成正比的电流信号而测出各物质的含量。

3.超薄层色谱:经四氯烷基硅（键合铅）制成整块硅胶板，而不用颗粒状吸附剂。厚度10µm，有孔径为1~2µm的大孔，孔径为3~4nm的中孔。UTLC取代了玻璃板，不需要载体；展程1~3cm，缩短分析时间，节约展开剂；具有高分离效率和选择性。可用于分离药物、酚类、增塑剂、甾族化合物等。

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